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顯微鏡FS-110是為了檢測如IC芯片和攝像頭零件等微型元件而設計的。此光學系統的特點是物鏡的 工作距離超長，目鏡視場寬以及具有獨立的側面色差校正系統。 三豐顯微鏡的特點： ·三豐顯微鏡完整的FS-110系統可由不同部件組成 以滿足不同的需求。 ·三豐顯微鏡有無透射照明都可工作 ·三豐顯微鏡物鏡的超長工作距離使用使得操作變得更加容易。 ·三豐顯微鏡選件的使用可擴大適用范圍。